- imec攜ASML、台積電發表2D材料電晶體12吋晶圓整合技術
- 首次實現50奈米閘極間距的微型化nFET與pFET
- 透過EUV微影技術製出通道長度短至28奈米的TMD電晶體
- 台積電曹敏:聚焦降低從實驗室邁向晶圓廠的技術風險
- 12吋晶圓上nFET與pFET可操作電晶體達94%
(綜合中央社、中時電子報、聯合報等3家媒體報導)
比利時微電子研究中心(imec)今日宣布,與艾司摩爾(ASML)及台積電在2026年IEEE/JSAP VLSI技術與電路研討會上,共同發表一套創新、穩健且可擴充的12吋晶圓整合技術路徑,用於2D材料的n型與p型場效電晶體(FET)。
這是首次展示搭配50奈米閘極間距(CPP)的微型化nFET(採用二硫化鉬作為通道材料)與pFET(採用二硫化鎢或二硒化鎢),並取得良好的電流-電壓特性。這些成果象徵2D材料電晶體從實驗室邁向晶圓廠的關鍵進展,預期用於超高度微縮化的邏輯元件,以及後段製程和晶背應用。
imec運算暨記憶體元件技術研發副總裁Gouri Sankar Kar表示,透過與ASML合作,採用經過最佳化的單次圖形化EUV微影技術,是實現微縮化閘極間距的關鍵。ASML指出,EUV微影技術提供的更高解析度,成功製出通道長度短至28奈米的TMD電晶體,間距也與最先進的電晶體節點相容。
台積電技術研究副總經理暨技術長曹敏表示,研究合作聚焦為「從實驗室邁向晶圓廠」的技術轉變降低風險和加速進展,確保創新的通道材料能快速有效地整合到先進製造。
這套類似於CMOS的整合方法,在單片12吋晶圓上整合nFET與pFET,達到高達94%的可操作電晶體,驗證其穩健性與穩定度。pFET性能表現已接近創下紀錄的實驗室元件水準,解決了TMD電晶體長久以來的技術挑戰。
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